专业面向半导体工艺的高纯臭氧氧化源
ALD(Atomic Layer Deposition,原子层沉积)技术对氧化剂的纯度、浓度稳定性以及供应重复性具有较高要求。臭氧(O3)具有较强的氧化能力,可作为 ALD 工艺中的氧化源,用于氧化物薄膜沉积及表面氧化处理。
同林 ALD 高纯臭氧发生器采用高纯氧气作为原料,通过专用臭氧发生模块产生稳定臭氧输出,并结合臭氧浓度控制、检测及尾气处理模块,为半导体材料研发和薄膜制备提供完整的臭氧供应方案。
面向半导体工艺的专业臭氧发生系统
面向半导体工艺设计不同于普通工业臭氧发生器,ALD 工艺更加关注臭氧浓度稳定性、输出重复性、小流量控制能力、系统兼容性与长时间运行可靠性。
同林半导体臭氧系统针对科研及工艺开发需求设计,可满足实验室及设备集成应用。
臭氧浓度稳定可调根据不同薄膜材料及工艺需求,可配置不同的臭氧浓度输出,支持低浓度臭氧供应、高浓度臭氧氧化及连续稳定输出。
臭氧浓度可通过发生功率调节、氧气流量调节及外部控制系统进行优化。
支持设备集成控制可根据 ALD 设备的自动化需求提供 RS485 通讯、Modbus 协议、4-20mA 控制、PLC 联动控制。
方便与 ALD 控制系统、MFC 流量系统、真空系统进行集成。
臭氧兼容气路设计臭氧具有强氧化性,设备气路采用耐臭氧材料,降低臭氧传输过程中的材料腐蚀和污染风险。
可选材料:PTFE、PFA、316L 不锈钢,满足不同工艺场景需求。
不同应用对于臭氧参数的要求不同
| 应用需求 | 设备选择建议 |
|---|---|
| 实验室 ALD 研发 | 小流量、高稳定臭氧系统 |
| 氧化物薄膜制备 | 浓度可调型臭氧发生器 |
| 设备配套 | 支持通讯控制的型号 |
| 长期工艺运行 | 带臭氧检测反馈系统 |
广泛应用于半导体及材料研发领域
臭氧可作为氧化剂应用于多种氧化物薄膜制备:Al2O3、HfO2、TiO2、ZnO。
应用优势:提高氧化效率、改善薄膜质量、降低有机残留。
臭氧氧化处理可应用于半导体材料表面改性与清洁处理,提升材料表面性能。
典型场景:金属表面氧化、材料表面改性、有机污染去除。
适用于高校及科研机构的新材料探索与功能氧化物研究,提供灵活可调的臭氧供应方案。
适用方向:纳米材料制备、功能氧化物研究、高介电材料开发。
完整的 ALD 臭氧供应系统包含四大模块
高纯臭氧发生器提供稳定的臭氧氧化源
臭氧浓度检测系统实时监测臭氧浓度与输出稳定性
气体流量控制模块MFC 精确流量控制,保障工艺重复运行
臭氧尾气处理系统处理残余臭氧,保护实验环境
系统流程
高纯氧气 → 臭氧发生器 → 臭氧检测 → MFC 流量控制 → ALD 反应腔 → 尾气破坏器
针对不同客户需求提供定制化方案
适用对象:高校实验室、科研机构、材料研发平台
方案配置:臭氧发生器、臭氧检测仪、流量控制、尾气处理
适用对象:ALD 设备厂家、半导体设备研发企业
支持服务:臭氧源集成、自动控制开发、工艺参数优化
适用对象:有特殊工艺需求的企业及研究机构
定制内容:特殊浓度与流量定制、专用接口开发、系统级集成方案
三种标准配置方案,满足不同场景需求
适合高校、科研实验室
配置清单:ALD 臭氧发生器、手动调节控制、臭氧检测
适合材料研发平台
配置清单:臭氧发生器、臭氧在线检测、MFC 流量控制、RS485 通讯
适合 ALD 设备厂家
配置清单:定制臭氧源、PLC 控制、系统接口开发、尾气处理
关于 ALD 臭氧系统的常见疑问解答
ALD 为什么使用臭氧作为氧化剂?
臭氧具有较高的氧化活性,可以在较低温度条件下促进前驱体氧化,因此被用于部分氧化物薄膜制备工艺。
ALD 臭氧浓度一般是多少?
实际需求取决于薄膜材料、前驱体类型、沉积温度和工艺参数。设备出口臭氧浓度与 ALD 腔体实际浓度存在差异,需要结合系统条件进行优化。
臭氧发生器可以直接连接 ALD 设备吗?
可以。需要根据 ALD 设备的接口、气体流量、压力条件与控制方式进行匹配设计。
为什么需要臭氧检测?
臭氧浓度直接影响氧化效果和实验重复性。配置臭氧检测系统,可以实时确认臭氧输出状态。
臭氧系统需要尾气处理吗?
需要。未反应的臭氧需要经过尾气处理后排放,以保证实验安全。
技术参数
臭氧产量:15-200 g/hr(取决于配置)
工作压力:20-80psi(取决于配置)
臭氧浓度:30g - 0.5L/min@300mg/L高达 20 wt%
冷却:风冷
检测系统,过程臭氧检测(0-400mg/L)
气源:氧气
气体流速:0.1-20SLM(取决于配置)
工作温度0-40℃
控制界面:触屏操作,4-20mA远程控制
重量:50kg
电源:220V 50/60HZ
功率:380W
接头:1/4 VCR接头
臭氧发生器产量规格
定制:10g/h、30g/h、60g/h、80g/h、100g/h、200g/h
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臭氧发生器覆盖半导体级高浓度机型,含 B20 高浓度臭氧发生检测系统、ALD 用液态超纯臭氧发生器、高浓度板式臭氧发生器与 Apex H30、EXT-10 等型号,纯度与浓度可按工艺要求配置。
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臭氧气体分析仪采用紫外吸收法测量气相臭氧浓度,覆盖国产高浓度紫外机型、德国 BMT 965ST 高浓度臭氧分析仪与 API Model 465H 等,可在线连续监测并输出信号。
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臭氧水发生器用于制备高浓度溶解臭氧水,适用于半导体晶圆清洗、科研实验与表面处理场景,出水浓度可按工艺要求标定并可配套在线溶解臭氧分析仪。
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溶解臭氧分析仪用于水中臭氧浓度的在线连续测量,含 EL-700A/E 型与半导体用高浓度臭氧水浓度检测仪(紫外法),适用于臭氧水制备与清洗工艺的过程监控。
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